适用范围
测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
性能指标
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃（在≤200℃时）±2℃（在200～300℃时）
光学放大倍数：目镜10X；物境4X
测量重复性：±1℃（在≤200℃时）±2℃（在200～300℃时）
光学放大倍数：目镜10X；物境4X
X-4显微熔点仪（数显）
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X-4显微熔点仪（数显）
详细信息 适用范围
测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。 性能指标
熔点测量范围：室温至320℃ 测量重复性：±1℃（在≤200℃时）±2℃（在200～300℃时） 光学放大倍数：目镜10X；物境4X |