X-荧光镀层测厚仪CMI900 金属镀层厚度的精确测量
CMI 900 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析.基于WindowsXP中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900主机的全面自动化控制，
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。
B ：精确度领先于世界，精确到0。025um (相对与标准片)
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米
样品台选择：
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二：自动样品台
1 程控样品台：XYZ轴自动控制。
2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
CMI900主要技术规格如下：
No. 主要规格
1X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
X射线管功率可编程控制
装备有安全防射线光闸
2滤光片程控交换系统:根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、 多种厚度的二次滤光片任选
位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口
3准直器程控交换系统:最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制
多种规格尺寸准直器任选：
－圆形，如4、6、8、12、20mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使 用0.025 x 0.05 mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用 0.3mm准直器)
5X射线探测系统 封气正比计数器
装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6样品室
－样品室结构 开槽式样品室
－最大样品台尺寸 610mm x 610mm
－XY轴程控移动范围 标准：152.4 x 177.8mm
任选：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm
177.8 x 177.8mm
610mm x 610mm
－Z轴程控移动高度 43.18mm
－XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动 控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制