JW-RK系列 静态容量法比表面及孔径分析仪
技术参数
功 能：
BET比表面测定
Langmuir比表面测定
吸（脱）附等温曲线测定
从吸附曲线测定BJH孔径分布
从脱附曲线测定BJH孔径分布工作气体： 高纯氮气（不用氦气）
氮气分压： 0.01～0.995
极限真空度：6.8×10－２Ｐａ
压力精度： 0.2％
预 处 理： 同机
测试范围：
比表面 ≥0.01M2/g , 无规定上限
孔径 １～300ｎｍ
测试精度： ≤±２%
测试效率： 单测BET比表面30分钟
从吸附曲线测定BJH孔径分布３小时
从吸、脱附曲线测定BJH孔径分布５小时
运行方式： 全自动
软 件： 专用
产 品 特 点
自主知识产权，功能与性能达到国际水平，可以代替进口；
自动化程度很高，可以做到完全无人值守；
独特的真空及气路设计，采用了独有的内置式微型调节阀；
可靠的无泄漏(10-9cc/sec)无污染的真空系统；
极佳稳定性的高灵敏压力传感器(0.25%)；
相对压力-平衡时间的全自动控制及平衡技术；
吸脱附压力及平衡时间可以自由设置，做到最佳选择；
软件功能齐全，全程实验在计算机屏幕上实时显示，试验结果同步得出；
可以单从吸附曲线得出ＢＪＨ孔径分布，测试时间可以节省一半；
只用高纯氮气,不用氦气；
高质量液氮杜瓦瓶及密封装置，大大降低了液氮的消耗；
与国外进口仪器相比，具有最大的性价比；
国产仪器维修及售后服务及其方便。
比表面仪