安捷伦科技隆重推出新一代双向观测原子发射光谱仪

创新的ICP-OES系统，分析样品更快速、使用气体更节省

 

2014年7月1日，北京——安捷伦科技公司（纽约证交所：A）于今日隆重推出Agilent 5100 电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES），借此巩固其作为原子光谱仪领域创新者的地位。即使面对最复杂的样品，全新的系统都能更快速地分析样品，使用气体更节省，且不会影响其分析性能。这款全新的仪器是实验室进行食品、环境、药物检测以及采矿和工业应用的理想选择。

 

 

安捷伦光谱产品副总裁 Philip Binns表示：“新系统避免了与传统的双向观测分析相关的速度和稳定性方面常见的影响。作为ICP-OES领域性能领导企业，安捷伦此次又为行业标准树立了新的标杆。”

 

传统的双向观测系统需要对每个样品进行多达四次的连续测量，而Agilent 5100仅需一次，这得益于它创新的智能光谱组合技术和垂直火炬同步双向观测技术。这些创新可让客户以更快的速度、更高的准确度和易用性进行分析，大大节省了时间和运行成本。

 

Philip Binns继续表示：“安捷伦的目标始终都是提供最快速、最高效的原子光谱系统，以应对最复杂的样品。今年，随着4200 MP-AES、7900 ICP-MS，以及如今5100 ICP-OES 的陆续面世，我们继续在元素分析的创新方面引领着行业发展，这也印证了我们致力于根据客户的应用需求提供最佳工具的一贯承诺。”

 

Philip Binns强调，Agilent 5100 ICP-OES分析每个样品的分析速度比市场上与之竞争的ICP-OES系统快55%，所需气体仅有其50%。他补充道：“市场上暂时还没有其它系统可以超越5100 ICP-OES的性能、抑或是其低运行成本的优势。”

 

借助Agilent 5100 ICP-OES，客户可使用直观的ICP Expert软件和智能光谱组合技术来实现方法开发。客户一次即可测量所有波长，具有极高的精密度，且无任何延迟。Agilent 5100 ICP-OES系统的垂直炬管可以应对最具挑战性的样品（从高基质样品到挥发性有机溶剂），并且分析结果具有高度可靠性。

 

Agilent 5100有三种配置，均配备耐用的垂直炬管，由此可以帮助客户实现：

● 同步垂直双向观测（SVDV）能够以最少的气体用量提供最快的分析速度；

● 垂直双向观测（VDV）可提供高通量，如需更高通量，可现场升级至SVDV配置；

● 径向观测（RV）是需要快速、高性能径向 ICP-OES 的实验室的理想选择。