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XLE-3大平台金相显微镜

 
品牌: 875
单价: 面议
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发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
所在地: 全国
有效期至: 长期有效
最后更新: 1970-01-01 08:00
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公司基本资料信息
详细说明

XLE-3型大平台检测显微镜

XLE-3型大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路、晶片的质量检测而设计开发制造的。

正置式,三目镜筒,比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连接彩色监视器可直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机,照相机直接拍摄,还可以直接进行图像记录,并建立技术检测档案,存储,查询,可省去复杂烦琐的摄影,洗印等暗室工作,大大提高了工作效率。

1)  放大倍数:40倍至500

超大型载物台,可做大范围的纵横方向快、慢速移动,扩大检测领域的使用范围,适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门,以及金相技术检验,实效分析等。

检测显微镜具有独特的特点:

  • 放大倍数:40X-500X
  • 超大型载物台,样品可以大范围的快慢速移动,扩大检测领域的使用范围,适用于电子、机械、化工、科研、院校等部门,以及金相技术检验、失效分析等。

 

显微镜技术参数:

1、物镜

物 镜
数值孔径(N.A)
有效工作距离(mm)
介 质
4X
0.10
17.912
10X
0.25
6.544
20X
0.40
1.05
40X
0.65
0.736

2、目镜:10X、12.5X 现视场直径:18mm

3、总放大倍率:40X-500X

4、载物台面积:350mm X 255mm

纵向移动行程:200mm 横向移动行程:200mm

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