测厚仪（厚度测量仪，测厚计，测厚表）

测厚仪（厚度测量仪，测厚计，测厚表）适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料的厚度精确测量。

特征 
机械接触式测量方法，不受测量材料的限制 
进口优质传感器，测量分辨率高达0.1微米 
进口优质传动元件，保证了试验结果的稳定性、 准确性 
测量头对薄膜(纸张)的接触面积、接触压力严格遵循相关标准 
特殊结构设计，保证上下测量平面的平行 
灵活、方便的配重方式更能满足范围更宽的测量，非标试验易于实现 
试验数据大屏幕液晶显示，操作按键人性化设计 
可设置手动、自动两种试验模式，测量结果自动统计、打印 
具有电脑通信接口 
兼容ISO、ASTM等多种测量标准 

结构组成 
本试验仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对薄膜进行测量，并输出相应电信号；控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等；打印输出系统的功能是统计结果的输出，打印试验结果。

功能原理 
本试验仪采用目前世界测量领域最先进的技术成果，确保测量结果的高精确性，多次测量结果的高度一致性；且操作调试极其方便，几近于自动化操作，最大限度地减少了人为因素对测量结果带来的影响；对于单次测量，仅打印输出测量结果，对于多次测量，可对测量结果进行统计、分析、打印输出；接触面积、测量压力、移动速度等严格遵循相关标准的规定。

技术指标
测量范围：0～2mm(常规)(0～6mm可选) 
分 辨 率: 0.1μm 
测量速度：10次/min(可调) 
测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；〔50±1kPa(纸张)〕 
接触面积：50mm2(薄膜）；〔200mm2 (纸张)〕 
电 源：AC 220V 50Hz 
外形尺寸：300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H) 
净 重：33kg 

标准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 

操作步骤 
上电→设置测量参数→进入测试界面→放置待测薄膜→启动测量→测量结束→打印输出 测量结果→试验结束 
注：本测量仪有记忆功能，若下次测量参数与上次相同，可直接进入测量，无须再进行参数设置。

配置 
标准配置：主机、标准量块一件 
选 购 件：专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码（用户要求）
 
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