X荧光光谱仪

产品说明、技术参数及配置 
 
  
采用国际上先进的由美国生产的半导体制冷的最新型探测器，电制冷，无需液氮制冷，可常温保存，使用方便。同时这款探测器内置信噪比增强器，提高了仪器精度和检出下限，金属的有害物质检出限比原有探测器高出近5倍。可用于玩具安全检测。

技术指标
※. 测量元素:从硫至铀等 75 种元素
※. 元素含量分析范围:1ppm-99.99%
※. RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)
※. 测量时间: 60-300s
※. 能量分辨率为： 155±5eV
※.  测量精度: < 0.05%
※. 高压：5-50kV
※. 管流：50-1000uA
※. 温度适应范围： 15-30℃
※. 相对湿度：≤70％
※. 仪器功率：≤90瓦
※. 电源：交流 220±5V（建议配置交流净化稳压电源）
※. 超大样品腔，尺寸Φ450×90mm
※. 一次可同时分析24个元素
※. 重量：110kg

配置
移动样品平台
加强的金属元素感度分析器
放大电路
信噪比增强器（SNE）
计算机、喷墨打印机
自动选择滤光片
多种准直器自动自由切换
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
样品腔上盖自动升降
软件定位样品平台最小