比表面仪

 JW-RK系列 静态容量法比表面及孔径分析仪
技术参数
功  能：
            BET比表面测定
　　        Langmuir比表面测定
　　　      吸（脱）附等温曲线测定
            从吸附曲线测定BJH孔径分布
            从脱附曲线测定BJH孔径分布

工作气体：  高纯氮气（不用氦气）
氮气分压：  0.01～0.995
极限真空度：6.8×10－２Ｐａ
压力精度：  0.2％
预 处 理：  同机
测试范围：
　          比表面　≥0.01M2/g , 无规定上限
　          孔径　　１～300ｎｍ
测试精度：  ≤±２%
测试效率：  单测BET比表面30分钟
　          从吸附曲线测定BJH孔径分布３小时
　          从吸、脱附曲线测定BJH孔径分布５小时
运行方式：  全自动
软    件：  专用
产 品 特 点
 自主知识产权，功能与性能达到国际水平，可以代替进口；
 自动化程度很高，可以做到完全无人值守；
 独特的真空及气路设计，采用了独有的内置式微型调节阀；
 可靠的无泄漏(10-9cc/sec)无污染的真空系统；
 极佳稳定性的高灵敏压力传感器(0.25%)；
 相对压力-平衡时间的全自动控制及平衡技术；
 吸脱附压力及平衡时间可以自由设置，做到最佳选择；
 软件功能齐全，全程实验在计算机屏幕上实时显示，试验结果同步得出；
 可以单从吸附曲线得出ＢＪＨ孔径分布，测试时间可以节省一半；
 只用高纯氮气,不用氦气；
 高质量液氮杜瓦瓶及密封装置，大大降低了液氮的消耗；
 与国外进口仪器相比，具有最大的性价比；
 国产仪器维修及售后服务及其方便。