比表面仪及孔径分布(孔隙率)分析仪

 JW-K型氮吸附比表面及孔径分布测试仪
    JW-K型集孔径分布测定、BET及直接对比法比表面积测定于一体，JW-K是基于动态常压氮吸附法实现介孔范围的精确测定，是本公司在动态氮吸附仪领域的重大突破。
技术参数
原理方法：动态氮吸附法
功    能：直接对比法快速比表面测定
          BET比表面测定
　　　    Langmuir比表面测定
　　　    碳黑外比表面测定
　　　    等温脱附曲线测定
　　　    BJH孔径分布测定（包括微分及积分分布）
　　　    总孔体积和平均孔径测定
测试气体：高纯氦气（载气）、高纯氮气
样品数量：２～4个
测试速度：直接对比法，平均每个样品5分钟
　        BET法，平均每个样品30分钟
　        孔径分布测定平均3～5小时
测试范围：比表面　≥0.01M2/g , 无规定上限
　        孔径　　２～100ｎｍ
测试精度：≤±2%
运行方式：半自动或全自动
主机尺寸：50×35×59（㎝）       
主机重量：33㎏
产品特点
 自主研发，国内外首创
 多重功能，可灵活转换；
 氮分压精确控制，国内领先；
 独特的技术，保证了测试精度；
 先进的热导池自动保护系统；
 高氮分压区域测试信号的自动补偿技术；
 软件功能齐全、操作简便，测试过程实时显示，测试结果同步展现；
 随机提供JW-样品真空预处理机；