WPA-200
WPA系列可测量相位差高达3500nm,适合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其领先世界的光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的万能机器,最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。
主要特点:
- 操作简单,测量速度可以快到3秒。
- 采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广。
- 测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据。
- 具有多种分析功能和测量结果的比较。
- 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。
- 市场占有率第一高的残余应力测量设备。
主要应用:
· 光学零件(镜片、薄膜、导光板)
· 透明成型品(车载透明零件、食用品容器)
· 透明树脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC)
· 透明基板(玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石)
· 有机材料(球晶、FishEve)
技术参数:
项次 |
项目 |
具体参数 |
1 |
输出项目 |
相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】 |
2 |
测量波长 |
520nm、543nm、575nm |
3 |
双折射测量范围 |
0-3500nm |
4 |
测量最小分辨率 |
0.001nm |
5 |
测量重复精度 |
<1nm(西格玛) |
6 |
视野尺寸 |
218x290mm-360×480mm(标准) |
7 |
选配镜头视野 |
无选配 |
8 |
选配功能 |
实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制,CD模式 |
测量案例:
请咨询我们