可以进行霍尔效应、R-H特性、R-T特性和I-V特性的测量，可得出参数：方块电阻、电阻率、霍尔系数、霍尔迁移率、载流子浓度和导电类型，可绘制以上参数随温度或磁场的变化曲线，以及I-V特性——不同磁场和不同温度下的I-V特性曲线，R-H特性——固定温度，电阻随着磁场变化的特性曲线，R-T特性——固定磁场，电阻随着温度变化的特性曲线。
产品功能：
1·电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率测试遵从美国材料与试验协会ASTM-F76标准
2·电阻测量范围宽：100nΩ（低电阻选件）～ 100GΩ（高阻系统）；
3·使用插入式样品卡，样品安装方便，同时提供四探针卡，免去制作电极的麻烦
4·标准系统一次可以同时测量2个样品，增加选件可同时测量4个样品；
5·测量和计算过程由软件自动执行，3分钟即可得到一个霍尔效应数据；
6·提供长时间高稳定性的磁场，24小时稳定性<±0.5G，并且磁场能够平滑过零
7·电磁铁电源内置高斯计，磁场从0到1kG只需20S即可控制在0.1G以内；
8·选择温度选件，可以进行不同温度下的霍尔效应和电阻的测量。
