JW-K型动态比表面及空隙率测定仪

JW-K技术参数

仪器功能
(测孔为主) 比表面积 直接对比法比表面积测定；BET单点（P/P0=0.2）比表面积测定；BET多点比表面积；langmuir比表面积测定 
总孔体积 单点(吸附最高点)计算的总孔体积；BJH总孔体积测定 
平均孔径 单点(吸附最高点)计算的总孔体积；BJH平均孔径测定 
测量范围 比表面≥0.01m2/g,无规定上限；孔径2～100nm 
测试精度 测试重复性误差≤2% 
样品类型 粉末、颗粒、纤维及片状材料   
样品数量 可同时进行2个样品的吸附或脱附测试 
测试效率 可2个样品同时测试，平均每个样品每个P/P0点测试时间约4～5分钟，每个P/P0点2个样品测试时间约10分钟 
方    法 氮吸附法，连续流动色谱法 
原    理 氮吸附，多层吸附理论，毛细凝聚理论 
气    体 高纯氮气N2（99.99%），高纯氦气He（99.99%） 
氮 分 压 P/P0范围0.01～0.98， P/P0精度误差≤0.5% 
控制系统 人工控制实验进程，采用进口的高精度流量传感器，根据具体实验需要手动控制流量，实现流量精确控制；而且采用高精度的热导检测系统，独创的电桥平衡电路，信号灵敏度高 
预 处 理 特制含真空系统的预处理机，预处理充分；每个样品可单定预处理温度和时间，温度可控范围50～400℃±1℃ 
软    件 在Windows平台上提供自动控制测试和数据处理/报告系统，测试结束后无需进行数据后处理，软件功能强大，界面友好 ，操作方便