薄膜厚度测量仪ST2000-DLXn

产地：韩国

技术参数 
活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) 
测量范围 200Å~ 35㎛(根据膜的类型) 
光斑尺寸 20㎛ 典型值 
测量速度 1~2 sec./site 
应用领域 聚合体: PVA, PET, PP, PR ... 

电解质: SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 .. 

半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 

选择 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) 
探头类型 三目探头 
nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt 
照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
主要特点 尺寸 190 x 265 x 316 mm 
重量 12Kg 
类型 手动的 
测量样本大小 ≤ 4" 
测量方法 非接触式 
测量原理 反射计 
特征 测量迅速，操作简单 

非接触式，非破坏方式 

优秀的重复性和再现性 

用户易操作界面 

每个影像打印和数据保存功能 

可测量多达3层 

可背面反射
仪器介绍 1996年以来，科美在半导体，平板显示器，电子物质，生命科学和化学分析上，研发和提供了独特的，先进的解决方案。科美，作为测量和分析技术市场上的领头和动力，以它突出的表现得到了世界范围的认可。