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光切法显微镜 9J(上海光学仪器厂 上光新光学)

 
品牌: 4852
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所在地: 上海
有效期至: 长期有效
最后更新: 1970-01-01 08:00
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公司基本资料信息
详细说明
光切法显微镜 9J(上海光学仪器厂 上光新光学)
又称双管显微镜,在不破坏表面的状况下,以光切法测量零件表面的微观不平度、划痕、刻线或缺陷的深度,适用于计量检测机构、精密零件制造和科研等单位,也是经典教学仪器之一。
●  表面粗糙度测量范围:12.5 ~0.2 (光洁度▽3~▽9)
●  不平宽度测量范围:0.7µm~2.5mm/或0.01µm~13mm.
●  不平度测量范围:0.8µm~80µm
●  物镜:7×,14×,30×,60×,测微目镜分划0.1mm.
选配:摄影摄像与图像处理与分析软件.
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